میکروسکوپ نوری قطبی شده

اصلاح و تغییر ماده ای به میکروسکوپ هم کانون بوجود آوردم که حالت قطبش ( پلاریزاسیون ) نور پدیدار شده از نمونه را تجزیه و تحلیل می کند تا امکان عمل میکروسکوپ نوری قطبی شده کمی را فراهم سازد. سیستم از شکل جدید آنالیزور ( تجزیه گر ) چرخشی که همراه با قفل حد کشف اجازه می دهد تا تصاویر در جایی که که مقابل تصویر مشابه هر دو کند کننده وجهت نمونه است بدست بیاید ( برای مثال در مورد نمونه انکسار یافته مضاعف ) . تصاویر از دامنه و سپس نمونه ها نمایان می شوند و مبدا تقابل مشاده شده از پراکنده سازان ماده نقطه هم بطور تئوری و هم به طور عملی بازرسی می شود .

مقدمه

حالت قطبی شدن باریکه نور عمدتا وقتی آن از یک ماه منعکس می شود یا در سراسر آن منتقل می شود تغییر داده می شود . تغییر ایجاد شده در حالت قطبی شدن اطلاعات را در اطراف ساختار ماده جابجا می کند. این مغایرت معمولا در میکروسکوپ نوری قطبی شده برای فراهم کردن اطلاعات در مورد اینانکسار مضاعف نمونه ودورنگی در زمینه ای گوناگون علم مواد بلوار شناسی و بیولوژی بکار می رود ( گی ۱۹۶۷ اینوئه ۱۹۸۶ رابینسون و بروبری ۱۹۹۲ ) . در ساده ترین شکلش یک میکروسکوپ قرار دادی یا هم کانون ممکن است به یک وسیله حساس قطبی شدن تبدیل شود که به وسیله جاسازی یک قطب در مسیر روشنایی و تجزیه گری که به طور مناسب در مسیر منعکس شده ( انتقال یافته ) جهت سازی شده است . انجام شود تجزیه گر به گونه ای جهت داده شده که تنها نوری را که قطبی شدن آن بر باریکه پایه قطبی شدن آن بر باریکه پایه قائم است را عبور دهد .

به منظور افزایش تقابل در میکروسکوپ نوری قطبی شده کاهش به حداقل سهم به تصویری که از نور پراکنده نشده ساطع می شود مهم می باشد . مشخص کردن این به وسیله جذب که بعنوان نسبت تراکم نور انتقال یافته بین قطب های مشابه به آنهایی که انتقال یافته وقتی قطبها متقاطع هستند تعریف می شود معمول است ( بلوتا ۱۹۹۳ ) . اندازه گیری در نبودش حد انتقال یا در حضور منعکس کند . کامل در انعکاس انجام می شود به طور ایده آل یک فرد دوست دارد که ضریب جذب بی نهایت و نامحدود باشد .

با این وجود این نتیجه اساسی ویژگی های تشکیل تصویر میکروسکوپ قرار دادی است که حتی اگر قطب های کامل مورداستفاده قرار می گیرند ضریب جذب محدود است ( کوبوتا و اینوئه ۱۹۵۹ ویلسون و ژاسکتیس ۱۹۹۵ ) و بطور نمونه مقدار۱۰۳ بدست می آید از طرف دیگر تشکیل تصویر همسان در میکروسکوپ اسکن کننده هم کانون ( ویلسون وشاپرد ۱۹۸۴ ویلسون ۱۹۹۰ ) امکان بدست آمدن ضریب حذب بی نهایت را فراهم می سازد ( ویلسون و ژسکتیس ۱۹۹۵ ) در محل مقدارهایی به بزرگی ۱۰۵*۵ بدست آورده ام که نزدیک به مقدار جذب عناصر قطبی شده مان به تنهایی است .این پیشنهاد می کند که سیستم میکروسکوپ هم کانون در برابر میکروسکوپ قرار دادی در اصلاحات متضاد تصویر در میکروسکوپ نور قطبی شده دارای مزیت است . با این وجود شکل که در تمام این وسایل وجود دارد این است که آنها اساسا اطلاعات کیفی فراهم می کنند .

آنها مقیاس های کمی از توزیع های ناهمسانگردی نوری نمونه را فراهم نمی کنند . برای غلبه بر این کمبود در اینجا اصلاح و تغییر سازه ای در سیستم بصری میکروسکوپ هم کانون که حالت قطعی شدن نور تصویر راتجزیه می کند بوجود آورده ایم . این امکان بدست آمدن تصاویری را فراهم می کند که اختلاف فضایی باز دارنده نوری وجهت یابی با هم را با تصویر کانون استاندارد را فراهم می سازد ( برای مثال دو مورد نمونه انکسار مضاعف شده ) این داده ها بدون هیچ توافقی در میزان اکتساب تصویر به دست آمده اند .

روش ما به کار انداختن بطور مدور نور قطبی شده در سیستم نوری میکروسکوپ و سپس کشف سیگنال تصویر در هر نقطه تصویر بدون توافق با میزان اکتساب تصویر استخراج شود .